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设备介绍
设备参数
应用领域
产品特点:
无电极激发(2.45GHz工业标准)超高密度等离子体密度达10-10/m2,是常规射频(13.56MHz)的10-1000倍,活性粒子浓度高、反应速率快。
低自偏压、低离子轰击:离子动能小、物理冲击弱,对敏感器件(芯片、MEMS)无损伤。微波驻波场分布均匀,等离子体扩散充分,可处理复杂形貌、微孔/缝隙,全域一致性强。
很适合于MEMS制造中的"器件释放”和微芯片封装中的“倒装芯片底部填充”工艺。
应用范围:
应用于引线键合及塑封封装、在芯片粘合前,在IC芯片封装前或者PBGAS及倒装晶片过程中和其它基于聚合物的衬底,以利于粘结,减少分层。
四大核心工序前:半导体:晶圆清洗、光刻胶去除、去胶、表面活化;MEMS:牺牲层去除、微结构表面处理;电子器件:PCB、FPC、连接器、引线框架清洁/活化;材料:高分子表面改性、陶瓷/玻璃亲水处理、金属去氧化。
产品参数:

-
- 商品名称: CRF-VMP-MW1000微波等离子清洗机
应用于引线键合及塑封封装、在芯片粘合前,在IC芯片封装前或者PBGAS及倒装晶片过程中和其它基于聚合物的衬底,以利于粘结,减少分层。四大核心工序前:半导体:晶圆清洗、光刻胶去除、去胶、表面活化;MEMS:牺牲层去除、微结构表面处理;电子器件:PCB、FPC、连接器、引线框架清洁/活化;材料:高分子表面改性、陶瓷/玻璃亲水处理、金属去氧化。
产品特点:
无电极激发(2.45GHz工业标准)超高密度等离子体密度达10-10/m2,是常规射频(13.56MHz)的10-1000倍,活性粒子浓度高、反应速率快。
低自偏压、低离子轰击:离子动能小、物理冲击弱,对敏感器件(芯片、MEMS)无损伤。微波驻波场分布均匀,等离子体扩散充分,可处理复杂形貌、微孔/缝隙,全域一致性强。
很适合于MEMS制造中的"器件释放”和微芯片封装中的“倒装芯片底部填充”工艺。
应用范围:
应用于引线键合及塑封封装、在芯片粘合前,在IC芯片封装前或者PBGAS及倒装晶片过程中和其它基于聚合物的衬底,以利于粘结,减少分层。
四大核心工序前:半导体:晶圆清洗、光刻胶去除、去胶、表面活化;MEMS:牺牲层去除、微结构表面处理;电子器件:PCB、FPC、连接器、引线框架清洁/活化;材料:高分子表面改性、陶瓷/玻璃亲水处理、金属去氧化。
产品参数:

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- 商品名称: CRF-VMP-MW1000微波等离子清洗机
应用于引线键合及塑封封装、在芯片粘合前,在IC芯片封装前或者PBGAS及倒装晶片过程中和其它基于聚合物的衬底,以利于粘结,减少分层。四大核心工序前:半导体:晶圆清洗、光刻胶去除、去胶、表面活化;MEMS:牺牲层去除、微结构表面处理;电子器件:PCB、FPC、连接器、引线框架清洁/活化;材料:高分子表面改性、陶瓷/玻璃亲水处理、金属去氧化。
产品特点:
无电极激发(2.45GHz工业标准)超高密度等离子体密度达10-10/m2,是常规射频(13.56MHz)的10-1000倍,活性粒子浓度高、反应速率快。
低自偏压、低离子轰击:离子动能小、物理冲击弱,对敏感器件(芯片、MEMS)无损伤。微波驻波场分布均匀,等离子体扩散充分,可处理复杂形貌、微孔/缝隙,全域一致性强。
很适合于MEMS制造中的"器件释放”和微芯片封装中的“倒装芯片底部填充”工艺。
应用范围:
应用于引线键合及塑封封装、在芯片粘合前,在IC芯片封装前或者PBGAS及倒装晶片过程中和其它基于聚合物的衬底,以利于粘结,减少分层。
四大核心工序前:半导体:晶圆清洗、光刻胶去除、去胶、表面活化;MEMS:牺牲层去除、微结构表面处理;电子器件:PCB、FPC、连接器、引线框架清洁/活化;材料:高分子表面改性、陶瓷/玻璃亲水处理、金属去氧化。
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